原理を理解し、実務に活かすIC分析力

IC技術説明会2026フライヤー【PDF】

お申込みはコチラから (サイトへ移動します)

本セミナーでは、ICの装置構成やカラム内での分離現象、検出器の役割といった基礎から、分離メソッド設計におけるカラム選択や溶離条件の考え方までを体系的に解説します。
また、株式会社DNP科学分析センターの白石さまをお迎えし、複雑な試料中でのアミン類 の分離・同定事例や、IC単独では対応が難しかったケースへのアプローチなど、実例を通してIC-MS活用の具体的なポイントをご紹介いただきます。
さらに、共存成分が多い試料や微量成分分析を想定した流路制御の活用例、目的イオン検出のポイント、燃焼イオンクロマ トグラフィー（CIC）の原理とThermo Scientific™ Cindion™ CICシステムを用いたシステム構成まで幅広く解説します。
基礎から応用までを通して理解を深め、実務に活かせるIC分析の知識と設計の考え方を整理するセミナーです。

皆さまのお越しをお待ち申し上げております。

東京会場

会場：大崎ブライトコアホール
開催日時：2026年6月17日（水）13：00 〜 17：00
お申し込み期限：2026年6月10日（水）17:00まで
※各会場、先着順となります。

また、お申し込み期限前でも定員に達した場合は、お申し込みを締め切らせていただきます。