第2回（5/12）：実践的な測定のコツとラボウェアの選択方法
第3回（6/17）：装置QCおよびデータ品質管理とトラブルシュート

260401 プレートリーダー基礎講座_第2.3回【PDF】

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ウェビナー『プレートリーダー基礎講座(全3回) ～見落としがちな「測定のコツ」お教えします～』のご案内です。
本ウェビナーでは、ブラックボックスになりがちなプレートリーダーの測定プロセスを可視化し、 「明日からの実験に自信が持てる」実践的なナレッジを3回シリーズでお届けします。

第2回（5月12日）は、実践的な測定のコツとラボウェアの選択方法です。
「設定のミス」なのか「装置の不調」なのかを見極めたいかた必見です！
数値のばらつきや感度不足の回避方法の伝授や、その他、光学的影響を抑えるためのラボウェア選定法もご紹介いたします。

第3回（6月17日）は、装置QCおよびデータ品質管理とトラブルシュートです。
自らおこなえる装置のセルフQC手法を伝授し、データの信頼性と再現性を把握、監視するためのノウハウを解説いたします。
気になるデータが出た際に役立つ「トラブルシュート・フロー」を公開し、迷わず対処できるスキルを身につけます。

第2回、第3回の講演前に、第1回のアーカイブ配信もございます。

みなさまのご参加を心よりお待ちしております。

参加申し込み締切日： 2026年 6月16日(火) 12:00まで
開催日：2026年 5月12日(火) 13:00～14:30 《第2回》
2026年 6月17日(水) 13:00～14:00 《第3回》
※第1回にお申込みいただいた方は、改めてのお申込みは不要です。