第1回
装置の中では何が起きている？？
～光学系の解剖学と全測定機能の基礎～

260318プレートリーダー基礎講座_第1回【PDF】

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ウェビナー『プレートリーダー基礎講座(全3回) ～見落としがちな「測定のコツ」お教えします～』のご案内です。
本ウェビナーでは、ブラックボックスになりがちなプレートリーダーの測定プロセスを可視化し、 「明日からの実験に自信が持てる」実践的なナレッジを3回シリーズでお届けします。

第1回は、『装置の中では何が起きている？？～光学系の解剖学と全測定機能の基礎～』です。
分光器の構造や検出器（PMT等）の特性などハードウェアの基礎を徹底解説し、フィルター式とモノクロメーター式の決定的な違いや、測定モードごとの原理・注意点を丁寧に紐解きます。

みなさまのご参加を心よりお待ちしております。

参加申し込み締切日　2026年 3月16日(月) 17:00まで
開催日時：2026年 3月18日(水) 13:00～14:00 《入退室自由》